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含鉛檢測儀器空白與樣品所用試劑的純度和容器的潔凈度有關。再加之，鉛廣泛分布于自然界。因此，鉛的檢測是易污染、*低的痕量分析，空白越低，準確度越高。所以，要求整個實驗空白要很低，實驗過程中要嚴格控制污染。1.實驗用水應符合GB/T6682-2008《分析實驗室用水規格和試驗方法》二級水的要求。2.實驗試劑應使用優級純，如果沒有符合純度要求的試劑，可采用化學法進行提純，但是在提純過程中，要注意避免溶劑二次沾污的可能性，同時實驗選用的試劑，還應以不沾污待測元素為基準（在實驗中，如果...

1、表面與外殼的清潔。儀器可用微濕的抹布進行表面清潔，不可用堿性或酸性清潔劑，應使用中性清潔劑。2、內部與探測器的清潔，在清潔過程中，必須注意不要將異物掉入測試窗口中，測試窗口應該保持清潔，同時不能使用硬物接觸測試窗口內，防止損傷探測器窗口和X光管窗口。3、開合蓋子需要注意什么問題儀器上禁止擺放茶杯，重物等與測試無關的物品，以免污染或損傷儀器。4、國產ROHS儀器的維護及安全使用方法(a)儀器測試窗口為裸露狀態時，必須保證無異物進入測試窗口內。(b)儀器的測試窗口下方是進口探...

臺式x熒光光譜儀樣品種類樣品狀態一般有固體塊狀樣品、粉末樣品和液體樣品等。（1）固體塊狀樣品包括黑色金屬、有色金屬、電鍍板、硅片、塑料制品及橡膠制品等，其中金屬材料占了很大的比例。（2）粉末樣品包括各種礦產品，水泥及其原材料，金屬冶煉的原材料和副產品如鐵礦石、煤、爐渣等；還有巖石土壤等。（3）液體樣品油類產品、水質樣品以及通過化學方法將固體轉換成的溶液等。臺式x熒光光譜儀中不同樣品有不同的制樣方法。金屬樣品如果大小形狀合適，或者經過簡單的切割達到國產X熒光光譜儀分析的要求，只...

ROHS檢測儀就是X射線熒光光譜儀，其分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。X射線熒光光譜儀通常可分為兩大類，波長色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF)，波長色散光譜儀主要部件包括激發源、分光晶體和測角儀、探測器等，而能量色散光譜儀則只需激發源和探測器和相關電子與控制部件，相對簡單。波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線，根據Bragg定律，通過測定角度，即可獲得待測元素的譜線波長：nλ=2dsinaθ（n=1,2,...

ICP光譜儀應用范圍都有哪些?ICP光譜儀它的迅速發展和廣泛應用是與其克服了經典光源和原子化器的局限性分不開的，ICP光譜法是上世紀60年代提出、70年代迅速發展起來的一種分析方法。近代的光譜儀大都采用微型計算機處理實驗結果，ICP光譜儀是當前光譜分析中zui迅速zui靈敏的一種儀器。光譜儀是上述各種儀器的總稱，各種光譜儀的形式各異。ICP光譜儀應用范圍一、地礦樣品的分析：包括地質樣品、礦石及礦物等。二、動植物及生化樣品的分析：包括植物、中藥及動物組織、生物化學樣品等。三、核...

EXF鍍層測厚儀原子的特性由原子序來決定，亦即質子的數目或軌道中電子的數目，即如圖所示特定的X-射線能量與原子序間的關系。K輻射較L輻射能量高很多，而不同的原子序也會造成不同的能量差。覆層厚度的測量方法主要有：楔切法，光截法，電解法，厚度差測量法，稱重法，X射線熒光法，β射線反向散射法，電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗。EXF鍍層測厚儀是無接觸無損測量，但裝置復雜昂貴，測量范圍較小。因有放射源，使用者必須遵守...

1.影響因素的有關說明a基體金屬磁性質磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實際應用中，低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的)，為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準;亦可用待涂覆試件進行校準。b基體金屬電性質基體金屬的電導率對測量有影響，而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關。使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準。濕度傳感器探頭,,不銹鋼電熱管PT100傳感器,,鑄鋁加熱器,加熱圈流體電磁閥c基體金屬厚度...

1、流動相的抽濾要求色譜純試劑，二次蒸餾水，緩沖鹽一定要過濾。2、吸濾頭特殊情況下可拆下濾頭抽取以判斷其中是否堵塞；亦可用注射器吸取流動相通過吸濾頭打出以判斷其是否堵塞。若有堵塞情況可用異丙醇超聲波清洗；清洗不成功則需要更換。3、單向閥如遇到泵壓不穩或流動相不能抽取，則可能是單向閥出現問題，卸下用異丙醇超聲波清洗，清洗時須按其安裝的反相放置在小燒杯中，切記不可與安裝方向倒置超洗！4、泵頭泵頭漏液或出現其它故障一般要申請維修(如漏液，或更換柱塞桿及其密封墊等)。5、過濾片當色譜...